Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers
- Angebotsfrist
- 29.10.2026, 12:00 Uhr
- Auftraggeber
- IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
- Ort
- Frankfurt (Oder), Brandenburg
- Verfahren
- Offenes Verfahren
- Veröffentlicht
- 29.09.2026
Leistungsbeschreibung
The subject of the procurement is the supply, installation and commissioning of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and high-frequency characterization of 200-mm wafers for research and laboratory use at IHP.
The system shall include, among other components, a 200-mm wafer prober with vacuum chuck and precision positioning, individual probes, multi-contact probes for RF measurements up to at least 6 GHz, a probe card system, automated microscopy and camera equipment, as well as control and software components. The scope of supply also includes transport, installation, commissioning, training, documentation, warranty and spare-parts supply.
Eignungsanforderungen (Auszug)
- Eintragung in das Handelsregister (Mit dem Angebot; Mittels Eigenerklärung):
Branchen
Automatisch zugeordnet anhand der CPV-Codes und des Titels.
Quelle: Bekanntmachung 39c01efa-1fae-4ee6-a482-1ab9ed408803-01 im Datenservice Öffentlicher Einkauf (CC0). Alle Angaben ohne Gewähr – rechtlich maßgeblich sind allein die Originalbekanntmachung und die Vergabeunterlagen.